实验反应堆物理

1 (p0-1): 前 言
1 (p0-2): 第一章实验堆物理的研究领域和基本课题
1 (p0-3): 一反应堆物理的研究领域
1 (p0-4): 目录
2 (p0-5): 二实验堆物理和理论堆物理的分工配合
4 (p0-6): 三、实验堆物理的基本研究课题
9 (p0-7): 第二章临界实验
9 (p0-8): 一、临界点及其确定方法
10 (p0-9): 二、实验原理、方法和误差
14 (p0-10): 三、实验仪器和设备
15 (p0-11): 四、临界实验举例
20 (p0-12): 1．保证临界安全的措施和注意事项
20 (p0-13): 五、有关问题讨论
21 (p0-14): 2．临界外推曲线的直线化及其单组解释
23 (p0-15): 3．中子源本底和光致缓发中子对临界参数的影响
24 (p0-16): 第三章中子通量测量之一
24 (p0-17): ——相对分布测量
24 (p0-18): 一、中子通量测量的目的和方法
26 (p0-19): 二、活化法的原理和方法
29 (p0-20): 三、活化探测技术
29 (p0-21): 1．探测材料的选择
30 (p0-22): 2．活化探测器的制备
33 (p0-23): 3．探测片校正及其他
35 (p0-24): 四、其他方法
36 (p0-25): 1．微型探测器方法
36 (p0-26): 2．自给能探测器方法
37 (p0-27): 3．固体径迹探测器方法
38 (p0-28): 五、探测器对中子场的扰动
43 (p0-29): 六、测量结果举例
47 (p0-30): 第四章中子通量测量之二
47 (p0-31): ——绝对测量
47 (p0-32): 一、测量目的和方法
48 (p0-33): 二、活化放射性强度的绝对测量
48 (p0-34): 1．4πβ-γ符合方法
56 (p0-35): 2．固定立体角方法
58 (p0-36): 三、探测片扰动因子的确定
60 (p0-37): 四、半导体探测器方法以及其他方法
61 (p0-38): 五、应用举例
61 (p0-39): 1．测量裂变率
62 (p0-40): 2．刻度反应堆功率
65 (p0-41): 第五章反应性测量之一
65 (p0-42): ——周期法
65 (p0-43): 一、反应性的定义
66 (p0-44): 二、反应堆动态方程
69 (p0-45): 三、倒时公式
69 (p0-46): 1．点堆倒时公式
70 (p0-47): 2．考虑反射层（两点模型）的倒时公式
77 (p0-48): 四、测量方法和测量仪器
78 (p0-49): 1．外中子源本底
78 (p0-50): 五、外中子源和各有关参数的影响
81 (p0-51): 2．缓发中子参数
84 (p0-52): 3．瞬发中子参数和光中子有效系数
84 (p0-53): 六、消除中子源本底和光中子效应的方法
84 (p0-54): 1．减本底逐步迭代方法
85 (p0-55): 2．倒数外推法
88 (p0-56): 第六章反应性测量之二
88 (p0-57): ——控制棒效率测量
88 (p0-58): 一、控制棒效率及其测量目的
89 (p0-59): 二、周期法测量刻度曲线
90 (p0-60): 三、反应性系数法
90 (p0-61): 1．水位系数法
92 (p0-62): 2．压力系数法
93 (p0-63): 四、落棒法和跳源法
94 (p0-64): 1．实验原理和方法
97 (p0-65): 2．非瞬时落棒效应
98 (p0-66): 3．空间效应和它的消除
102 (p0-67): 五、暂态分析（功率史）法
105 (p0-68): 六、方波加权法
110 (p0-69): 七、振荡法
112 (p0-70): 八、源倍增法
115 (p0-71): 九、有关问题讨论
115 (p0-72): 1．测量方法的物理模型
117 (p0-73): 2．棒栅效率、剩余反应性和停堆深度
119 (p0-74): 二、实验原理和方法
119 (p0-75): 一、引言
119 (p0-76): ——脉冲中子源方法
119 (p0-77): 第七章反应性测量之三
120 (p0-78): 1．裸堆点模型
126 (p0-79): 2．带反射层——两点模型
129 (p0-80): 三、脉冲中子的产生
129 (p0-81): 1．中子管
131 (p0-82): 2．加速高压和脉冲调制
132 (p0-83): 四、实验数据的采集和处理
132 (p0-84): 1．实验数据的采集
133 (p0-85): 2．分辨时间的确定及其修正
134 (p0-86):…